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    顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光

    型號(hào):SGW®X-4A

    產(chǎn)品時(shí)間:2024-04-30

    簡(jiǎn)要描述:

    顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光
    范圍:室溫~320℃;
    最小讀數(shù)單位:0.1℃;
    重復(fù)性:±1℃(<200℃);±2℃(≥200℃);
    單目顯微鏡;光學(xué)放大倍數(shù):40倍

    詳細(xì)介紹
    SGW® X-4B/SGW® X-4A/SGW® X-4 顯微熔點(diǎn)儀
    顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光              產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

    SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風(fēng)罩,減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

    測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

    SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風(fēng)罩,減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

    顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光               技術(shù)參數(shù):
    儀器型號(hào)SGW® X-4BSGW® X-4ASGW® X-4
    測(cè)量范圍

    室溫~320℃

    測(cè)量方法目視
    測(cè)量模式毛細(xì)管法/熱臺(tái)法
    最小示值

    0.1℃

    0.1℃1℃
    示值誤差≤200℃±1℃;>200℃±2℃
    觀察方式雙目體視顯微鏡單目顯微鏡單目顯微鏡
    放大鏡倍數(shù)40×-100×變倍40×40×
    電源220V±22V,50Hz±1Hz
    儀器尺寸269×160×435mm215×140×395mm215×140×395mm
    儀器凈重4kg3.6kg3.5kg




     


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